2604B吉時(shí)利 keithley 2604B 萬用表?

吉時(shí)利 keithley 2604B源表SMU，雙通道（100fA、40V、3A直流/10A脈沖），臺(tái)式版本 源/測(cè)量功能 - 雙通道型號(hào)具有80W輸出功率（40W/通道）- 4象限源/測(cè)量具有6位半分辨率- 電流最大值/最小值：3A直流、10A脈沖/100fA- 電壓最大值/最小值：40V/100nV一般特性 - 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件- TSP?（測(cè)試腳本處理）技術(shù)在測(cè)量儀器內(nèi)嵌入了完整測(cè)試程序- TSP-link?擴(kuò)展技術(shù)面向多通道并行測(cè)試- 軟件仿真基于吉時(shí)利2400源表SMU- 大屏幕、易于閱讀、雙行顯示

2604B源表SMU是具有最高性價(jià)比的最新雙通道SMU。其緊密集成的4象限設(shè)計(jì)能同步源和測(cè)量電壓/電流以提高研發(fā)和臺(tái)式應(yīng)用的生產(chǎn)率。keithley 2604B源表SMU配備了吉時(shí)利高速TSP?技術(shù)，其速度比傳統(tǒng)PC至儀器的通信技術(shù)快200%。keithley 2604B源表SMU用于臺(tái)式應(yīng)用，因此不具有2602B源表SMU的高端、系統(tǒng)級(jí)自動(dòng)化特性，包括數(shù)字I/O、TSP?-link技術(shù)和接觸檢查功能。3A直流、10A脈沖和40V輸出的寬量程使keithley 2604B源表SMU適于測(cè)試寬范圍的大電流器件、材料、組件和分裝件。+

2601B型單通道儀器(40V, 100fA, 3A DC/10A脈沖)· 2602B型雙通道儀器(40V, 100fA, 3A DC/10A 脈沖)· 2604B型雙通道臺(tái)式儀器(40V, 100fA, 3A DC/10A 脈沖)· 2611B型單通道儀器(200V, 100fA, 1.5A DC/10A 脈沖)· 2612B型雙通道儀器(200V, 100fA, 1.5A DC/10A 脈沖)· 2614B型雙通道臺(tái)式儀器(200V, 100fA, 1.5A DC/10A 脈沖)· 2634B型雙通道臺(tái)式儀器(200V, 1fA, 1.5A DC/10A 脈沖)· 2635B型單通道儀器(200V, 0.1fA, 1.5A DC/10A 脈沖)· 2636B型雙通道儀器(200V, 0.1fA, 1.5A DC/10A 脈沖)

吉時(shí)利儀器公司，作為先進(jìn)電性測(cè)試儀器與測(cè)試系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)者，推出三款最新的源測(cè)量單元(SMU)儀器，非常適合臺(tái)式及研發(fā)應(yīng)用，拓展了2600B系列數(shù)字源表產(chǎn)品系列，提高量產(chǎn)生產(chǎn)率，產(chǎn)品更具易用性。這是目前測(cè)試與測(cè)量行業(yè)中功能最強(qiáng)大、速度最快、分辨率最高的源測(cè)量單元(SMU)，可以提供6位半分辨率、軟件仿真(與吉時(shí)利2400型數(shù)字源表測(cè)試代碼兼容)以及USB 2.0 接口。?吉時(shí)利2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利最新的I-V源-測(cè)量儀器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用，2600B系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件，允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試，無需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，2600B的TSP架構(gòu)和新增功能，例如，并行測(cè)試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界最高吞吐量，從而降低了測(cè)試成本。吉時(shí)利2600B系列數(shù)字源表以性能的擴(kuò)展替代受歡迎的2600系列數(shù)字源表。因?yàn)?600A系列數(shù)字源表提供后向代碼兼容至2600系列，所以客戶能用2600A系列簡(jiǎn)易替換2600B系列。? * ?一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器 代碼后向兼容2 6 0 0系列數(shù)字源表，便于更換 TSP? Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試 精密定時(shí)和信道同步(<500ns)

* 執(zhí)行并行測(cè)試，獲得無以倫比的吞吐量* 20,000讀數(shù)/秒提供更快的測(cè)試時(shí)間和能力，捕捉器件瞬態(tài)性能* 系列產(chǎn)品提供寬動(dòng)態(tài)范圍： 1fA~10A和1μV~200V* TSP-link?總線支持每GPIB或IP地址多達(dá)32單元/64通道的通道擴(kuò)展* 測(cè)試腳本處理器(TSP?)以極高的系統(tǒng)自動(dòng)化在儀器中執(zhí)行完整的測(cè)試程序(腳本)* USB端口用于保存數(shù)據(jù)和測(cè)試腳本* LXI Class C兼容性提供高速數(shù)據(jù)傳輸并且實(shí)現(xiàn)快捷地遠(yuǎn)程測(cè)試、監(jiān)控和排錯(cuò)?對(duì)多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測(cè)試和特性分析，包括：-分立的和無源的元器件-雙引腳–電阻、盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻-三引腳–雙極型小信號(hào)晶體管(BJT)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)等-并行測(cè)試–雙引腳、三引腳元器件陣列-簡(jiǎn)單集成電路–光學(xué)、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器集成的器件-小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)-模擬IC-射頻集成電路(RFIC)-應(yīng)用定制的集成電路-系統(tǒng)級(jí)芯片(SOC)器件