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中國(guó)大恒(集團(tuán))有限公司北京圖像視覺(jué)技術(shù)分公司

大恒圖像成立于1991年,是中國(guó)科學(xué)院下屬企業(yè),大恒圖像的技術(shù)骨干主要來(lái)自中國(guó)科學(xué)院各研究單位,公司的產(chǎn)品和技術(shù)基礎(chǔ)來(lái)源…

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中國(guó)大恒(集團(tuán))有限公司北京圖像視覺(jué)技術(shù)分公司

聯(lián) 系  人:大恒圖像(先生) 負(fù)責(zé)人 

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聯(lián)系地址:海淀區(qū)蘇州街3號(hào)大恒科技大廈北座12層

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  • 發(fā)布時(shí)間:2007/12/27 9:54:15   修改時(shí)間:2007/12/27 9:54:15 瀏覽次數(shù):5330
  • LED光源主要類型
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      沐光方式(直接型)聚光方式(直接型)低角度方式(直接型)
        高密度光輸出,產(chǎn)生鮮明逼真的圖像
       
      LDR 系列
        采用CCS 獨(dú)創(chuàng)的柔性板,高密度的LED 陣列排列在傘狀結(jié)構(gòu)中,在照明光源中心區(qū)域高度集中的光亮,這是LED 照明光源系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)模式。此種結(jié)構(gòu)已被廣泛的應(yīng)用。
    • 檢測(cè)IC 芯片上的印刷字符
    • 檢測(cè)印刷電路板上的零件
    • 檢測(cè)塑料蓋上的污點(diǎn)
    • 標(biāo)簽檢測(cè)

      SQR 系列
    • 檢測(cè)液晶玻璃基板的標(biāo)記
    •   線型,聚光照明

        LN 系列
        結(jié)合圓柱形透鏡,此照明光源系統(tǒng)可產(chǎn)生高強(qiáng)度的直線形光條。
    • 檢測(cè)樹(shù)脂產(chǎn)品z檢測(cè)連接器
    • 檢測(cè)膠片和紙張
    •   模塊邊緣、光滑表面的劃痕檢測(cè)
       
      LDR-LA 系列
        采用柔性板,創(chuàng)出最佳的傾斜角度。低角度的照明光源是邊緣檢測(cè)、金屬表面的刻印和損傷檢測(cè)的理想選擇。
    • 讀取發(fā)動(dòng)機(jī)部件上的刻印標(biāo)記
    • 晶片損傷檢測(cè)
    • BGA 的焊點(diǎn)位置和面積檢測(cè)
      LDR-LA-1 系列
        10mm 的超薄設(shè)計(jì)。
    • 玻璃基板、晶片的傷痕、臟污檢測(cè)
    • 讀取刻印字符
    • BGA 焊接球位置和面積測(cè)試
    • 條形方式(直接型) 低角度方式(間接型)扁平環(huán)狀方式(間接型)
        高密度的LED 陣列置于緊湊的、框形斜射光照明單元中
       
      LDL/LDQ 系列
        照明光源角度幾乎可被自由地設(shè)成任意角度。LDQ 系列中,四面的每個(gè)角度都可被獨(dú)立設(shè)置。
    • 液晶文字檢測(cè)z檢測(cè)小型LCD 面板
    • 標(biāo)簽檢測(cè)
    • 陶制品的外部和裂縫檢測(cè)
    • 金屬板表面檢測(cè)
    • QFP、SOP 檢測(cè)
    •   均勻照明反光工作界面

       
      FPR/FPQ 系列
        獨(dú)創(chuàng)的光線導(dǎo)向技術(shù)用于非常均勻的照明表面。擴(kuò)散的光線以低角度均勻地照射在物體表面上。FPQ 系列提供矩形矩陣的超薄照明光源。
    • BGA 焊接球位置和面積測(cè)試
    • 塑料瓶蓋外側(cè)、鋁罐頭底部檢測(cè)
    • 高爾夫球的臟污檢測(cè)
    • SOP,CSP 封裝的字符檢測(cè)
    • QFP,SOP 等的觸角、外觀檢測(cè)
    • 檢測(cè)PC 母板的模式
    •   平滑、擴(kuò)散的頂點(diǎn)光

       
      LFR/ LKR / LAV-80 系列
        薄環(huán)照明光源系統(tǒng)只有12mm 厚,LFR 系列是頂部均勻照射光源。LKR 系列是圓錐形的照明光源,可對(duì)被測(cè)物體的任何角度進(jìn)行照射。
    • 檢測(cè)IC 芯片上的印刷字符
    • 檢測(cè)電路板元件
    • 晶片外形檢測(cè)(背光)
    • 檢測(cè)橡膠類制品或焊接檢測(cè)
    • 封蓋標(biāo)記、內(nèi)側(cè)、底部臟污檢測(cè)
    • 檢測(cè)鏡頭表面上的細(xì)小裂痕和碎屑
    • 檢測(cè)液晶玻璃基板的標(biāo)記
    • 圓形方式(間接型)背光方式(透射型)線條方式(透射型)
        用于表面光滑的曲面檢測(cè)
       
      LDM2/PDM系列
        散射的照明光可以對(duì)即使彎曲的金屬表面進(jìn)行均勻的照射。
    • 適合不平坦的光滑表面上文字的檢測(cè)
    • 適合各種方向的均勻照明
    • 對(duì)罐頭底部的標(biāo)記進(jìn)行檢測(cè)
    •   用于輪廓檢測(cè)
       
      LDL-TP/LDL/ LFL 系列
        用高密度LED 陣列面提供高強(qiáng)度背光照明。
    • 電子元件的外部檢測(cè)
    • 檢測(cè)透明底片等的污
    • SOP,CSP 檢測(cè)
    • 液晶文字檢測(cè)
    • 檢測(cè)小型電子元件的尺寸和外形
    • 軸承的外觀、尺寸檢測(cè)
    • 半導(dǎo)體導(dǎo)線框的外觀尺寸檢測(cè)
    •   線形傳感器的最佳照明
       
      LND 系列
        提供均勻照明。高亮度H 系列比標(biāo)準(zhǔn)A 系列亮度高兩倍。
    • 包裝破損檢測(cè)
    • LCD 破損檢測(cè)
    • 膨脹膠片破損檢測(cè)
    • 遮蔽膠帶破損檢測(cè)
    • 伸展膠片破損檢測(cè)
    • 迭片結(jié)構(gòu)破損檢測(cè)
    • 液晶部件檢測(cè)
    • 同軸方式(同軸型)平行光光學(xué)單元(特殊型)多用途照明光源(特殊型)
        均勻照明反光工作界面

       
      LFV/LFV2/FV-CP/LFV-5/LNV-300系列
        照明的光線同鏡頭視線呈同一軸向;同軸落射照明用于線形傳感器,用于具有高反射性鏡面的工作模塊。
    • 金屬、玻璃等光澤面的傷痕檢測(cè)
    • 印刷、電路板的模式檢測(cè)
    • 芯片和硅晶片的破損檢測(cè)
    • 瓶口的裂縫和碎片檢測(cè)
    • 檢測(cè)玻璃電路板的表面?zhèn)?/li>
    •   檢測(cè)反光物體表面的劃痕、凹痕和污漬
       
      MSU 系列
        檢測(cè)鏡面的突起、劃痕和凹痕。通過(guò)特殊透鏡產(chǎn)生平行光。有10mm、30mm 和130mm 三種視場(chǎng)規(guī)格。
    • 檢測(cè)如CD 和晶片等表面反光的物體上細(xì)小的劃痕和凹陷
    • 讀取二維代碼
    • 檢測(cè)光澤金屬表面的毛刺和扭曲
    •   按特殊要求設(shè)計(jì)定制
       
       
      CMR 系列/LV/LMR/MAC-13XA
        特殊照明系統(tǒng),如體視顯微鏡照明光源,以及用于超小尺寸工作模塊檢測(cè)的高倍率鏡頭和其它專用照明。
         
        滿足用于具有高亮度要求的線性掃描檢測(cè)

       
      HLND系列
        系列迄今為止最高亮,性能最佳的新一代線性照明
       
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